1、计算结果表明:变形统计值与变形监测值吻合较好,统计复相关系数较大,估计标准误差较小。
2、对双电层电容充电电流引起的测量误差作了修正。
3、如果你认为这已达成一页误差则请洽我们的站长。
4、根据膜电容测量要求,找到刺激信号低频段复阻抗系统测量误差产生的原因,以及纠正的方法。
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